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Giuseppe CotellessaAttended a one-hour webinar and Q&A session entitled"Recent FE-SEM developments for material characterization: Combining Gemini optics and image processing" /
Questo per riconoscimento
Giuseppe Cotellessa
Ha partecipato ad un webinar di un'ora ed ad una sessione di domande e risposte intitolata
"Recenti sviluppi FE-SEM per la caratterizzazione dei materiali: combinazione dell'ottica Gemini e dell'elaborazione delle immagini" / #14/12/2022
Dott. Giuseppe Cotellessa
Key learning objectives
- Discover the benefits of using Gemini optics for materials analysis
- Understand software-supported image analysis
- Learn how to analyze charging materials with the new NanoVP lite mode
- Explore examples of low kV imaging for challenging samples
InformazioneRecent FE-SEM developments for material characterization: Combining Gemini optics and image processing
Observing materials using a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) has become essential for the development of materials. Production steps and even macroscopic properties are related to the microstructure of materials. Therefore, microscopy is the tool of choice, enabling material researchers to link micro- and nanometer-scaled structures and macro-scaled properties. Advances in usability have made this technology approachable for any kind of user, no matter if they are a novice or expert.
In this webinar, we will show how the FE-SEM combines the latest hardware and software technology in the analysis and characterization of various materials. The examples shown will cover research trends in nanotechnology, miniaturization of devices, life sciences, and novel materials.
ITALIANO
Principali obiettivi di apprendimento
Scopri i vantaggi dell'utilizzo dell'ottica Gemini per l'analisi dei materiali
Comprendere l'analisi delle immagini supportata da software
Scopri come analizzare i materiali di ricarica con la nuova modalità NanoVP lite
Esplora esempi di imaging a basso kV per campioni complessi
Informazioni
Recenti sviluppi FE-SEM per la caratterizzazione dei materiali: combinazione dell'ottica Gemini e dell'elaborazione delle immagini
L'osservazione dei materiali mediante un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) è diventata essenziale per lo sviluppo dei materiali. Le fasi di produzione e persino le proprietà macroscopiche sono legate alla microstruttura dei materiali. Pertanto, la microscopia è lo strumento preferito, che consente ai ricercatori di materiali di collegare strutture su scala micro e nanometrica e proprietà su scala macro. I progressi nell'usabilità hanno reso questa tecnologia accessibile a qualsiasi tipo di utente, indipendentemente dal fatto che sia un principiante o un esperto.
In questo webinar, mostreremo come FE-SEM combina la più recente tecnologia hardware e software nell'analisi e nella caratterizzazione di vari materiali. Gli esempi mostrati riguarderanno le tendenze della ricerca in nanotecnologia, miniaturizzazione di dispositivi, scienze della vita e nuovi materiali.
