Key Learning Outcomes

Information

In situ materials testing in scanning electron microscopy (SEM) is an emerging trend among SEM applications. The method is widely used to link the microstructure of a material with its macroscopic mechanical properties, by measuring the dynamical response of a material under mechanical load, in real-time. When combined with further analytical techniques, such as energy dispersive spectroscopy (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD), the response of the material’s microstructure can be related to its chemical composition and crystallographic orientations. Understanding the relationship of the microstructures and properties of a material is essential for developing novel materials. Nevertheless, performing an in situ experiment in the SEM is a demanding task, due to poor integrations of in situ and analytical accessories. In this webinar, join Dr. Fang Zhou, manager of the business sector at ZEISS, as he introduces a fully integrated in situ solution in a field emission scanning electron microscope (FESEM), and explores automated workflows that can be used to generate meaningful data with high levels of reproducibility and precision.

ITALIANO

Principali risultati di apprendimento

Punti salienti e vantaggi di una soluzione in situ unica e completamente integrata e della tecnologia alla base.

Come superare le sfide comuni affrontate durante gli esperimenti in situ

Come questo metodo si confronta con le integrazioni in situ convenzionali

Come affrontare applicazioni impegnative, inclusa la lavorazione di metalli, leghe, materiali di produzione additiva e polimeri

Informazione

Il test dei materiali in situ nella microscopia elettronica a scansione (SEM) è una tendenza emergente tra le applicazioni SEM. Il metodo è ampiamente utilizzato per collegare la microstruttura di un materiale con le sue proprietà meccaniche macroscopiche, misurando in tempo reale la risposta dinamica di un materiale sotto carico meccanico. Se combinata con ulteriori tecniche analitiche, come la spettroscopia a dispersione di energia (EDS) e la diffrazione di retrodiffusione elettronica (EBSD), la risposta della microstruttura del materiale può essere correlata alla sua composizione chimica e agli orientamenti cristallografici. Comprendere la relazione tra le microstrutture e le proprietà di un materiale è essenziale per lo sviluppo di nuovi materiali. Tuttavia, l'esecuzione di un esperimento in situ nel SEM è un compito impegnativo, a causa delle scarse integrazioni di accessori in situ e analitici. In questo webinar, unisciti al Dr. Fang Zhou, manager del settore aziendale presso ZEISS, mentre introduce una soluzione in situ completamente integrata in un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FESEM) ed esplora flussi di lavoro automatizzati che possono essere utilizzati per generare dati significativi con elevati livelli di riproducibilità e precisione.